更新時(shí)間：2024-06-15
設(shè)備型號(hào)：FHA-17C-100-E250-C
設(shè)備價(jià)格：
訪問(wèn)量：2004
| 品牌 | 其他品牌 | 規(guī)格 | FHA-17C-100-E250-C |
|---|---|---|---|
| 供貨周期 | 一個(gè)月以上 | 主要用途 | 半導(dǎo)體、面板 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
齒輪測(cè)試技術(shù)
齒輪測(cè)試技術(shù)中存在兩種不同的思路，一種是純幾何概念，它基于曲面上點(diǎn)、線概念用儀器形成理論軌跡測(cè)量實(shí)際曲線上點(diǎn)的偏差，日本哈默納科DD馬達(dá)FHA-17C-100-E250-C如V 6450及各類齒輪測(cè)量中心都基于這種思想;另一種思想是齒輪誤差對(duì)性能的影響是通過(guò)傳遞運(yùn)動(dòng)反映出來(lái)，在加工中由展成運(yùn)動(dòng)形成，基于這種思想設(shè)計(jì)的儀器主要測(cè)量工件和測(cè)量元件間的嚙合運(yùn)動(dòng)偏差，從運(yùn)動(dòng)偏差得出齒面幾何誤差信息，典型儀器有CZ450整體誤差測(cè)量?jī)x。前種思想引出的齒輪測(cè)量方法稱之為點(diǎn)軌跡法，后種稱之為嚙合運(yùn)動(dòng)法。
采用點(diǎn)軌跡法的*代齒輪儀器主要采用日本哈默納科DD馬達(dá)FHA-17C-100-E250-C精密機(jī)械機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)理論軌跡，由機(jī)械測(cè)微表測(cè)得誤差，其第二代儀器是將*代儀器改為光學(xué)讀數(shù)定位和調(diào)整，由電感等測(cè)微儀記錄誤差，典型的儀器有3201漸開線檢查儀、德國(guó)I}lingelnberg PWF250滾刀檢查儀和瑞士MAGG生產(chǎn)的SP60齒輪測(cè)量?jī)x等，這一代產(chǎn)品引進(jìn)了計(jì)算機(jī)技術(shù)后可對(duì)測(cè)得的曲線進(jìn)行分析，進(jìn)入90年代，隨著CNC技術(shù)的廣泛應(yīng)用，第三代產(chǎn)品CNC齒輪測(cè)量中心逐漸成為主導(dǎo)產(chǎn)品，它具有兩種形式:
1.坐標(biāo)測(cè)量機(jī)形式，有德國(guó)蔡司公司生產(chǎn)的ZMC550型齒輪測(cè)量中心
